Tag: SEE
1 pozycji oznaczonych tym tagiem.
- Promieniowanie jonizujące i odporność elektroniki
Od środowiska misji, spectrum, flux/fluence, dawki, LET i transportu przez TID, dose rate, annealing, displacement damage oraz SEE — SEU, MBU, SET, SEFI, SEL, SEB i SEGR — do skutku w pamięciach, procesorach, FPGA, torach analogowych i zasilaniu; dalej shielding, ECC/scrub, TMR, recovery, rate i availability; na końcu pełny RHA, COTS/lot control, irradiation, fault injection i lifecycle evidence.